設備詳細
| 設備名称 |
X線回折装置(X'Pert-Pro) |
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| 分類 | 大項目 | 小項目 | ||
| 分析機器 | 構造解析 | |||
| メーカー |
PANalytical |
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| 型番 |
X'Pert-Pro MRD |
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| 概要・外観 |
X線回折法、X線反射率法等を用い、結晶や薄膜材料などの物質の微細構造を同定できる。特に本装置は平行光学系を有し、超薄膜半導体などの先端材料の物理的、化学的、及び構造的特性を分析するために最適化されている。従来の粉末状材料の格子定数による物質同定にも対応した最新のデータベースも有し汎用性も高い。 |
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| 性能・構成内訳 |
線源：Cu 粉末測定用モジュール 薄膜測定用モジュール 高分解能測定用モジュール ICDDデータベース |
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| 主な用途 （分析対象物） |
薄膜結晶の構造解析 薄膜の反射率測定 粉末結晶の同定、 構造解析 |
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| 設置場所 |
※※※※※ |
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| 留意事項 |
学外の方で利用を希望される場合は、以下をご参照ください。 https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/ |
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| 研究成果 （論文・研究内容） |
Semitransparent Ternary NiFeCoOx Cocatalyst Layers with Optimized Loading Balancing Transparency and Oxygen Evolution Activity on FTO and Hematite Photoanodes
DOI Scopus Electrochemical Identification of Surface States Limiting Overall Water Splitting in Particulate Oxynitride Photocatalysts DOI Growth and structural evaluation of GaAsN/GaAs superlattice films with different N distributions grown by atomic layer epitaxy DOI Scopus DOI スプレー熱分解を用いたp 型CuBi2O4 の開発と光電気化学特性評価 DOI DOI DOI |
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最終更新日：2026/08/19
設備利用お問い合わせ先情報
| 担当者氏名 |
※※※※※ |
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| Tel |
※※※※※ |
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※※※※※ |
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| URL | https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/ |
設備利用料金情報
| 利用形態 | 単価 |
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受託試験 ※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費（受託試験料金の30％）】を合算した料金をお支払いいただきます。 |
20200 円／検体 |
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