設備詳細
設備名称 透過型電子顕微鏡 (JEM-2100PLUS)
分類 大項目 小項目
分析機器 構造解析
メーカー 日本電子
型番 JEM-2100PLUS
概要・外観 電子線を光源として試料を通過させ、磁界型レンズで結像することにより、試料の写真撮影や、物質の微細組織や構造の観察及び回折パターンによる結晶構造の評価と解析ならびに付属のX線分析装置による元素分析が可能である。
性能・構成内訳 最高加速電圧:200kV
格子分解能:0.1nm
倍率:×50~×1,500,000
STEM観察:走査像観察装置(EM-24011ASID)
元素分析:エネルギー分散型X線分析装置(日本電子 JED-2300T型)
主な用途
(分析対象物)
結晶構造像の観察
生物組織の形態観察
設置場所 ※※※※※
留意事項
研究成果
(論文・研究内容)
MAO/NMP 溶液を用いたリチウムイオン電池用セパレータの熱安定性の向上


DOI



DOI
Al2O3 Thin Layer Formed inside Porous Membrane Using Spray Synthesis Method and Its Application


DOI Scopus
Wrapping of Drug Assembly with Silica Layer and Confinement through Reversible Linkage with Copper(II) for Glutathione-Responsive Nanocapsule


DOI Scopus
Colloidal Trehalose Nanoparticles: Sacrifice Templates for Hollow Silica Nanospheres


DOI Scopus
Ultra-Thin Layer Inside Separator Deposited by Spray Pyrolysis Using Methylaluminoxane Solution


DOI Scopus
PEEK/graphite film formation on microgrooves of PEEK- hybrid radial Al2O3 ball bearings under rolling contact in dry condition


DOI Scopus
Preparation and Characterization of Poly-N-isopropylacrylamide Cryogels containing Liposomes and Their Adsorption Properties of Tryptophan


DOI Scopus
Photoluminescence emission from GaAs nanodisks in GaAs/AlGaAs nanopillar arrays fabricated by neutral beam etching


DOI Scopus CiNii



DOI Scopus
最終更新日:2025/08/03
設備利用お問い合わせ先情報
担当者氏名 ※※※※※
Tel ※※※※※
e-mail ※※※※※
URL https://www.miyazaki-u.ac.jp/kscrs/basis/trusting-test.html
設備利用料金情報
利用形態 単価
受託試験
  ※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費(受託試験料金の30%)】を合算した料金をお支払いいただきます。
47000
円/検体
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