設備詳細
| 設備名称 |
走査型電子顕微鏡 (S-5500) |
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| 分類 | 大項目 | 小項目 | ||
| 分析機器 | 表面観察 | |||
| メーカー |
日立 |
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| 型番 |
S-5500 |
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| 概要・外観 |
試料表面を細く絞った電子線で走査した時に放出される種々の信号を検出して結像するインレンズ方式超高分解能走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope）で、立体感に満ちた試料表面の形状が把握できる。 元素分析機能も備えている。 |
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| 性能・構成内訳 |
加速電圧：0.5～30kV 倍率：×60～×2,000,000 EDX分析：エネルギー分散型X線分析装置（EDAX genesis rTEM） |
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| 主な用途 （分析対象物） |
表面観察 元素分析 |
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| 設置場所 |
※※※※※ |
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| 留意事項 |
学外の方で利用を希望される場合は、以下をご参照ください。 https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/ |
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| 研究成果 （論文・研究内容） |
DOI Electrochemical Identification of Surface States Limiting Overall Water Splitting in Particulate Oxynitride Photocatalysts DOI Estimating the quasi-Fermi level of holes at the surface of semiconductor photoanodes using outer-sphere redox couples DOI DOI N,N-ジメチルアルキルアミンを用いた銀ナノワイヤの新規調製法 DOI Scopus DOI Interfacial Design of Particulate Photocatalyst Materials for Green Hydrogen Production DOI DOI DOI Wrapping of Drug Assembly with Silica Layer and Confinement through Reversible Linkage with Copper(II) for Glutathione-Responsive Nanocapsule DOI Scopus |
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最終更新日：2026/05/19
設備利用お問い合わせ先情報
| 担当者氏名 |
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| Tel |
※※※※※ |
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※※※※※ |
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| URL | https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/ |
設備利用料金情報
| 利用形態 | 単価 |
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受託試験 ※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費（受託試験料金の30％）】を合算した料金をお支払いいただきます。 |
24600 円／検体 |
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