宮崎大学設備情報データベース

設備詳細

分類	大項目		小項目
設備名称	X線回折装置(X'Pert-Pro)
分類	分析機器		構造解析
メーカー	PANalytical
型番	X'Pert-Pro　MRD
概要・外観	X線回折法、X線反射率法等を用い、結晶や薄膜材料などの物質の微細構造を同定できる。特に本装置は平行光学系を有し、超薄膜半導体などの先端材料の物理的、化学的、及び構造的特性を分析するために最適化されている。従来の粉末状材料の格子定数による物質同定にも対応した最新のデータベースも有し汎用性も高い。
性能・構成内訳	線源：Cu 粉末測定用モジュール薄膜測定用モジュール高分解能測定用モジュール ICDDデータベース
主な用途（分析対象物）	薄膜結晶の構造解析薄膜の反射率測定粉末結晶の同定、構造解析
設置場所	※※※※※
留意事項	学外の方で利用を希望される場合は、以下をご参照ください。 https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/
研究成果（論文・研究内容）	加速変質試験と液固比バッチ試験による長期カラム通水試験の酸化と溶出挙動の予測伊藤健一, 小谷護留, 伊藤華奈子, 細堀建司, 岡本直人, 野田典広地盤工学ジャーナル 20 1 15 - 23 20250301 DOI スプレー熱分解を用いたp 型CuBi2O4 の開発と光電気化学特性評価脇島海晴, 東智弘, 永岡章, 吉野賢二宮崎大学工学部紀要 53 75 - 78 20241023 DOI B13 盛土内の環境保全に向けたベントナイト複層覆土の検討伊藤健一, 小谷護留粘土科学討論会講演要旨集 67 0 81 - 82 20240831 DOI GaAs基板上メタモルフィックInGaAs量子井戸レーザーの高温動作荒井昌和レーザー研究 52 5 253 - 20240500 Development of Thermally Stable FTO Thin Films on Quartz Substrates for Carrier Collection in Semiconductor Photoelectrodes Tomohiro Higashi, Shintaro Fukagawa, Kaisei Wakishima, Koichi Yoshiyama, Yuki Narita, Kenji Yoshino Journal of Materials Chemistry C - 20240000 DOI Understanding the Activation Mechanism of RhCrOx Cocatalysts for Hydrogen Evolution with Nanoparticulate Electrodes Tomohiro Higashi, Kazuhiko Seki, Vikas Nandal, Yuriy Pihosh, Mamiko Nakabayashi, Naoya Shibata, Kazunari Domen ACS Applied Materials & Interfaces － - 20240000 DOI 長期カラム通水試験における酸化進行に関する加速変質試験との対比による考察伊藤健一第15回環境地盤工学シンポジウム発表論文集 15 83 - 87 20240000 2E19 紫外線の教材開発と社会・地域貢献の取り組み吉野賢二, 永岡章, 太田靖之, 西岡賢祐, 鈴木祥広工学教育研究講演会講演論文集 2024 0 236 - 237 20240000 DOI Photoelectrochemical properties of p-type CuBi2O4 prepared by spray pyrolysis of carbon-free precursor aqueous solution combined with post-annealing treatment Kaisei Wakishima, Tomohiro Higashi, Akira Nagaoka, Kenji Yoshino New Journal of Chemistry 48 131 - 143 20240000 DOI 加速変質試験を用いた自然由来重金属等含有岩石の溶出傾向における酸化の影響評価山田優子, 伊藤健一, 堀中敏弘, 鳥居和樹, 新谷広紀, 嵐正治環境地盤工学シンポジウム発表論文集 15th 77-82 - 20231102

最終更新日：2025/08/03

設備利用お問い合わせ先情報

担当者氏名	※※※※※
Tel	※※※※※
e-mail	※※※※※
URL	https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/

設備利用料金情報

利用形態	単価
受託試験　　※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費（受託試験料金の30％）】を合算した料金をお支払いいただきます。	20200 円／検体

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