設備詳細
設備名称 高分解能小型プローブ顕微鏡 (AFM5200S)
分類 大項目 小項目
分析機器 表面分析
メーカー 日立
型番 AFM5200S
概要・外観 原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscopy）の鋭く尖った探針を用いて、試料表面をなぞる。または試料表面と一定の間隔を保って走査し、探針の上下方向への変位を計測することによって試料表面の形状の評価を原子レベルで行う。
性能・構成内訳 基本機能：AFM、DFM、PM、FFM
測定環境：大気、液中
主な用途
（分析対象物）		 ナノオーダーでの
材料表面形状観察
設置場所 ※※※※※
留意事項
研究成果
（論文・研究内容）


DOI
最終更新日：2025/08/03
設備利用お問い合わせ先情報
担当者氏名 ※※※※※
Tel ※※※※※
e-mail ※※※※※
URL https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/
設備利用料金情報
利用形態 単価
受託試験
　　※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費（受託試験料金の30％）】を合算した料金をお支払いいただきます。
 		18500
 円／検体
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