宮崎大学設備情報データベース

設備詳細

分類	大項目		小項目
設備名称	ライフタイム測定装置 (LTA-1510EP)
分類	分析機器		電気特性評価
メーカー	(株)コベルコ科研
型番	LTA-1510EP
概要・外観	マイクロ波光導電減衰（μ-PCD）法を利用して、励起キャリア（電子・正孔）のライフタイムを測定する装置です。非発光再結合が支配的なシリコンや多結晶であるCIGS材料への適用も可能で、ライフタイムのマッピング測定も取得できる。
性能・構成内訳	レーザ波長904nm、マイクロ波周波数9.6GHz 349nmの短波長レーザと26GHzの差動μ-PCD検出系を搭載
主な用途（分析対象物）	半導体材料の電気的特性評価
設置場所	※※※※※
留意事項	学外の方の利用については、準備中ですのでしばらくお待ちください。お急ぎの方は、以下にご連絡ください。 e-mail: fsc-uom@of.miyazaki-u.ac.jp
研究成果（論文・研究内容）	Suppression of charge carrier recombination in lead-free tin halide perovskite via lewis base post-treatment Kamarudin M., Hirotani D., Wang Z., Hamada K., Nishimura K., Shen Q., Toyoda T., Iikubo S., Minemoto T., Yoshino K., Hayase S. Journal of Physical Chemistry Letters 10 17 5277 - 5283 20190905 DOI Scopus Ultrafast Electron Injection from Photoexcited Perovskite CsPbI<inf>3</inf>QDs into TiO<inf>2</inf>Nanoparticles with Injection Efficiency near 99% Liu F., Zhang Y., Ding C., Toyoda T., Ogomi Y., Ripolles T., Hayase S., Minemoto T., Yoshino K., Dai S., Shen Q. Journal of Physical Chemistry Letters 9 2 294 - 297 20180118 DOI Scopus Slow hot carrier cooling in cesium lead iodide perovskites Shen Q., Ripolles T., Even J., Ogomi Y., Nishinaka K., Izuishi T., Nakazawa N., Zhang Y., Ding C., Liu F., Toyoda T., Yoshino K., Minemoto T., Katayama K., Hayase S. Applied Physics Letters 111 15 - 20171009 DOI Scopus Na-doped Cu<inf>2</inf>ZnSnS<inf>4</inf>single crystal grown by traveling-heater method Nagaoka A., Scarpulla M., Yoshino K. Journal of Crystal Growth 453 119 - 123 20161101 DOI Scopus

最終更新日：2025/04/25

設備利用お問い合わせ先情報

担当者氏名	※※※※※
Tel	※※※※※
e-mail	※※※※※
URL	https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/fsc-uom/

設備利用料金情報

利用形態	単価
受託試験　　※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費（受託試験料金の30％）】を合算した料金をお支払いいただきます。	20000 円／検体

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