設備詳細
| 設備名称 |
低真空走査型電子顕微鏡 |
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| 分類 | 大項目 | 小項目 | ||
| 分析機器 | 表面観察 | |||
| メーカー |
日立製作所 |
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| 型番 |
S-3000N |
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| 概要・外観 |
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| 性能・構成内訳 |
二次電子像分解能：3.5nm 反射電子像分解能：4.5nm 倍率：×15～×300000 |
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| 主な用途 （分析対象物） |
光学顕微鏡に比べ波長の短い電子線を用いるので、倍率を大きくとれ、走査型のため、対象物を立体的に見ることが可能。 |
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| 設置場所 |
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| 留意事項 |
お問合わせ先： みやざきファシリティネットワーク事務局 （宮崎大学 研究・産学地域連携推進機構 研究基盤支援部門 内） e-mail: bunseki@of.miyazaki-u.ac.jp |
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| 研究成果 （論文・研究内容） |
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最終更新日：2025/08/03
設備利用お問い合わせ先情報
| 担当者氏名 |
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| Tel |
※※※※※ |
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| URL | http://www.pref.miyazaki.lg.jp/contents/org/kankyo/mokuzai/wurc/ |
設備利用料金情報
| 利用形態 | 単価 |
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依頼試験 |
5520 円/件 |