| 設備名称 |
電界放出形分析走査電子顕微鏡 |
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| 分類 | 大項目 | 小項目 | ||
| 分析機器 | 表面観察 | |||
| メーカー |
㈱日立ハイテクノロジーズ |
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| 型番 |
本体:S-4800 EDX検出器:EDAX Genesis APEX2 |
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| 概要・外観 |
電子線を用いて観察対象の試料表面を拡大し、最小でナノメートルオーダーの観察が可能な装置。また、付属の元素分析装置により、観察範囲に含まれる元素を分析することができる。 |
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| 性能・構成内訳 |
分解能:1nm、倍率20~80万倍 最大試料サイズ:φ100mm×H29mm エネルギー分散型X線分析装置付属 分析元素:Be~Am |
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| 主な用途 (分析対象物) |
各種材料の表面微細構造観察 |
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| 設置場所 |
※※※※※ |
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| 留意事項 |
お問合わせ先: みやざきファシリティネットワーク事務局 (宮崎大学 研究・産学地域連携推進機構 研究基盤支援部門の内部に設置された組織) e-mail: bunseki@miyazaki-u.ac.jp |
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| 研究成果 (論文・研究内容) |
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| 担当者氏名 |
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| Tel |
※※※※※ |
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| URL | https://www.iri.pref.miyazaki.jp/ |
| 利用形態 | 単価 |
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設備利用 |
4230 円/時間 |