設備詳細
設備名称 超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU8020
＋エネルギー分散型X線分析装置
分類 大項目 小項目
分析機器 表面観察
メーカー 日立/Bruker
型番 SU8020/XFlash 5060FQ
概要・外観
性能・構成内訳 低加速電圧超高分解能観察（二次電子分解能1.3nm/照射電圧1.0kV）
最表面情報を可視化する多彩な信号検出系
新制御系GUIと24.1型ワイドモニター
主な用途
（分析対象物）		 表面観察
元素分析
設置場所 ※※※※※
留意事項 お問合わせ先：
みやざきファシリティネットワーク事務局
（宮崎大学 研究・産学地域連携推進機構 研究基盤支援部門 内）
e-mail: bunseki@of.miyazaki-u.ac.jp
研究成果
（論文・研究内容）
最終更新日：2025/08/03
設備利用お問い合わせ先情報
担当者氏名 ※※※※※
Tel ※※※※※
e-mail ※※※※※
URL http://www.miyakonojo-nct.ac.jp/~techcen/index.html
設備利用料金情報
利用形態 単価
受託試験
　　※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費（受託試験料金の30％）】を合算した料金をお支払いいただきます。
 		4,320

(サンプル固定用消耗品 108円 / 個)
 円／時間
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