設備名称 |
走査電子顕微鏡用イオンスパッタ装置 |
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分類 | 大項目 | 小項目 | ||
処理装置 | 成膜 | |||
メーカー |
日立 |
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型番 |
E-1030およびE-1045 |
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概要・外観 |
走査電子顕微鏡観察における絶縁性試料のチャージアップ防止のために、試料表面に金・白金・カーボン等をスパッターコートする装置です。 |
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性能・構成内訳 |
ダイオード放電マグネトロン形(電場・磁場直交形) 電極形状:対向平行板(マグネット埋込み) E-1030は膜厚測定ユニット付 E-1045はカーボンコートユニット付 |
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主な用途 (分析対象物) |
走査電子顕微鏡観察のための試料前処理 金、白金およびカーボン等の電極形成 |
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設置場所 |
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留意事項 |
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研究成果 (論文・研究内容) |
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担当者氏名 |
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Tel |
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URL | https://www.miyazaki-u.ac.jp/crcweb/analysis_support/trusting_test/ |
利用形態 | 単価 |
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