設備詳細
| 設備名称 |
デスクトップX線回折装置 |
|||
|---|---|---|---|---|
| 分類 | 大項目 | 小項目 | ||
| 分析機器 | 構造解析 | |||
| メーカー |
株）ﾘｶﾞｸ製 |
|||
| 型番 |
MiniFlex600-C 一式 |
|||
| 概要・外観 |
卓上タイプの高性能多目的粉末X線回折分析装置である。半導体などの材料の物理的、化学的、および構造的特性を解析するために最適化されている。制御および解析は付属のソフトウェア（SmartLab Studio II）より、回折パターンの測定・物質同定・リートベルト解析までを行うことができる。 |
|||
| 性能・構成内訳 |
X 線源 Cu-Kα 特性 X 線（Kα2 フィルター無し） 出力：40 kV, 15 mA（固定） 光学系 Bragg-Brentano 光学系 検出器 高速 1 次元半導体検出器（D/teX Ultra2、リガク製） |
|||
| 主な用途 （分析対象物） |
粉末結晶の同定、構造解析 |
|||
| 設置場所 |
※※※※※ |
|||
| 留意事項 |
|
|||
| 研究成果 （論文・研究内容） |
DOI DOI スプレー熱分解を用いたp 型CuBi2O4 の開発と光電気化学特性評価 DOI Review on Group-V Doping in CdTe for Photovoltaic Application DOI Scopus Physicochemical insights into semiconductor properties of a semitransparent tantalum nitride photoanode for solar water splitting DOI Scopus Direct Observation of Group-V Dopant Substitutional Defects in CdTe Single Crystals DOI Scopus Controlling the conduction type in a thermoelectric material (Cu<sub>1-x</sub>Ag<sub>x</sub>)<sub>2</sub>ZnSnS<sub>4</sub> DOI Scopus Characterization of Cu-Bi-S Powders Synthesized by Polyol Method DOI Scopus |
|||
最終更新日：2025/04/25
設備利用お問い合わせ先情報
| 担当者氏名 |
※※※※※ |
|---|---|
| Tel |
※※※※※ |
|
※※※※※ |
|
| URL |
設備利用料金情報
| 利用形態 | 単価 |
|---|---|
|
受託試験 ※右の受託試験料金に、当該受託試験遂行に関連し必要となる経費【間接経費（受託試験料金の30％）】を合算した料金をお支払いいただきます。 |
3000 円／検体 |
戻る
ご利用をご希望の方は、留意事項をご参照ください。